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使用顯微鏡觀察斷裂金屬表面的存在哪些難點(diǎn)

更新時(shí)間:2024-08-22瀏覽:1242次

  斷口分析是一種用于確定金屬結(jié)構(gòu)斷裂原因的分析技術(shù)。該方法依靠對(duì)斷口表面的韌窩和滑移帶的分析來(lái)確定它是由腐蝕疲勞、應(yīng)力腐蝕引起的,還是由疲勞、脆性、延性或蠕變引起的應(yīng)力斷裂引起的。斷裂的方向通常也可以確定。這為確定金屬部件所能承受的應(yīng)力和載荷提供了有價(jià)值的信息。然而,斷裂面可能具有復(fù)雜的形狀,使得用顯微鏡進(jìn)行檢查具有一定難度性。
  用顯微鏡觀察斷裂金屬表面的有哪些難點(diǎn):
  1、在大范圍內(nèi)觀察斷裂面
  在開(kāi)始分析時(shí),分析者要用盡可能大的視野觀察表面,找出導(dǎo)致破壞的原因。一種解決方案是使用拼接,將多個(gè)圖像組合成一個(gè)大的圖像。然而,糟糕的光學(xué)質(zhì)量會(huì)導(dǎo)致圖像之間的拼接痕跡可見(jiàn),這就使得查找破壞的原因變得很困難。
  重疊圖像之間的痕跡非常明顯
  2、難以確定斷裂面的奇點(diǎn)
  用低放大率觀測(cè)來(lái)定位奇點(diǎn)。當(dāng)表面有高度差異時(shí),顯微鏡的聚焦深度使其不可能完全聚焦圖像,即使在低放大率下也是如此。當(dāng)這種情況發(fā)生時(shí),檢查人員可以使用一種稱為景深疊加的圖像處理技術(shù)來(lái)創(chuàng)建一個(gè)清晰的圖像。但是,這個(gè)過(guò)程可能比較慢,如果需要檢查樣品的不同部位,用戶必須返回到活動(dòng)圖像進(jìn)行導(dǎo)航。
  定位奇點(diǎn)的能力也取決于顯微鏡物鏡的分辨率。大多數(shù)低放大倍率物鏡的分辨率較低,這使得在復(fù)雜形狀的斷口表面捕捉奇點(diǎn)的圖像變得很困難。
  3、在分析過(guò)程中跟蹤觀察位置
  斷裂面的特征和形貌看起來(lái)非常相似,在分析過(guò)程中很容易丟失位置。如果用戶丟失了他們的位置,他們可能不得不重新開(kāi)始。
  4、奇點(diǎn)分析困難
  一旦一個(gè)奇點(diǎn)被定位,它就會(huì)被放在高倍物鏡觀察。如前所述,物鏡的分辨率對(duì)圖像質(zhì)量有顯著影響,因此如果操作者試圖放大奇點(diǎn),圖像可能會(huì)變得模糊。當(dāng)這種情況發(fā)生時(shí),操作者需要換一個(gè)分辨率更高的物鏡。然而,這個(gè)過(guò)程意味著圖像需要重新聚焦和重新獲得奇異點(diǎn),這增加了檢測(cè)的時(shí)間。
  高倍物鏡的另一個(gè)問(wèn)題是聚焦深度較淺,這使得獲取全聚焦圖像的景深疊加技術(shù)出現(xiàn)問(wèn)題。也有可能由于工作距離小,鏡頭在試圖景深疊加時(shí)與樣品發(fā)生碰撞,對(duì)兩者造成潛在的損害。

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